میکروسکوپ نیروی اتمی جدید با قابلیت اسکن الکتروشیمیایی

اخیرا میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) جدیدی مجهز به مود اسکن الکتروشیمیایی (مود SECM) به بازار عرضه شده است که با قدرت تفکیک نانومتری اطلاعات الکتروشیمیایی سطح را در اختیار کاربر قرار می دهد.

به گزارش سرویس فناوری ایسنا، این مود جدید موجب بهبود عملکرد دستگاه می شود، به طوری که محققان را قادر می کند تا بر روی نمونه های عایق و رسانا مطالعات الکتروشیمیایی انجام دهند.

با این مود منحصربه فرد می توان سطح را با قدرت تفکیک نانومقیاس و با سرعت بالا، روبش و اطلاعات الکتروشیمیایی آن را استخراج کرد.

این مود جدید به صورتی طراحی شده است که هم عملکرد بالایی داشته باشد و هم کار با آن آسان باشد.

بنابراین صرفه جویی زیادی در زمان تصویربرداری انجام می شود.

این مود جدید که خلاقیت های زیادی در طراحی آن به کار گرفته شده است، دارای کاربردهای متعددی است که از آن جمله می توان به مطالعه واکنش های انتقال یکنواخت و غیریکنواخت الکترون، تصویربرداری از فرآیندهای فعال زیستی، اصلاحات سطحی و آنالیز لایه های نازک، تصویربرداری از مواد کاتالیستی و فرآیندهای خوردگی اشاره کرد.

در این مود فناوری های EC SmartCart ، نانوالکترود نوک AFM و پیمایشگر EC SmartCart به کار گرفته شده است.